Begreppsinformation
Föredragen term
Elektronsondmikroanalys
Typ
-
Ämne
Överordnat begrepp
Hänvisningstermer
- Röntgenmikroanalys
- XRMA
Användningsanmärkning
- Påvisande och kvantitativ mätning av grundämnen utifrån det faktum att den röntgenstrålning som avges av ett grundämne som aktiveras av en elektronstråle har en för ämnet karakteristisk våglängd och mängdintensitet. Tekniken kan utnyttjas i elektronmikrosond, mikroanalyselektronmikroskop, eller elektronmikroskop eller svepelektronmikroskop utrustade med röntgenspektrometer.
Termer på andra språk
-
engelska
-
Microanalysis, Electron Probe
-
Microanalysis, X-Ray
-
Microscopy, Electron, X-Ray Microanalysis
-
Spectrometry, X Ray Emission, Electron Microscopic
-
Spectrometry, X Ray Emission, Electron Probe
-
Spectrometry, X-Ray Emission, Electron Microscopic
-
Spectrometry, X-Ray Emission, Electron Probe
-
X Ray Emission Spectrometry, Electron Microscopic
-
X Ray Emission Spectrometry, Electron Probe
-
X Ray Microanalysis
-
X Ray Microanalysis, Electron Microscopic
-
X Ray Microanalysis, Electron Probe
-
X-Ray Emission Spectrometry, Electron Microscopic
-
X-Ray Emission Spectrometry, Electron Probe
-
X-Ray Microanalysis
-
X-Ray Microanalysis, Electron Microscopic
-
X-Ray Microanalysis, Electron Probe
-
finska
URI
http://www.yso.fi/onto/mesh/D004577
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}