Hoppa till innehållet

MeSH / SweMeSH

Sök i vokabulär

Innehållets språk

Begreppsinformation

Utredningsmetoder > Mikroskopi > Elektronmikroskopi > Svepelektronmikroskopi
... > Diagnos > Diagnostiska tekniker och metoder > Bilddiagnostik > Mikroskopi > Elektronmikroskopi > Svepelektronmikroskopi
... > Teknologi inom industri och lantbruk > Ingenjörskonst > Optik och fotonik > Mikroskopi > Elektronmikroskopi > Svepelektronmikroskopi
... > Naturvetenskaper > Fysik > Optik och fotonik > Mikroskopi > Elektronmikroskopi > Svepelektronmikroskopi

Föredragen term

Svepelektronmikroskopi  

Typ

  • Ämne

Överordnat begrepp

Relaterade begrepp

Hänvisningstermer

  • Mikroskopi, svepelektron

Användningsanmärkning

  • Mikroskopi där preparatet undersöks genom att en elektronstråle läser av det punkt för punkt. Bilden skapas genom registrering av spridningen av bakåtstrålningen från preparatytan. Vid svepelektronmikroskopi spelar preparatets tjocklek ingen roll. Tekniken, och även instrumentet, förkortas ofta SEM.

Termer på andra språk

  • Microscopy, Electron, Scanning

    engelska

  • Electron Microscopies, Scanning
  • Electron Microscopy, Scanning
  • Electron Scanning Microscopies
  • Electron Scanning Microscopy
  • Microscopies, Electron Scanning
  • Microscopies, Scanning Electron
  • Microscopy, Electron Scanning
  • Microscopy, Scanning Electron
  • Scanning Electron Microscopies
  • Scanning Electron Microscopy
  • Scanning Microscopies, Electron
  • Scanning Microscopy, Electron
  • pyyhkäisyelektronimikroskopia

    finska

URI

http://www.yso.fi/onto/mesh/D008855

Ladda ned detta begrepp:

RDF/XML TURTLE JSON-LD Skapad 1999-01-01, senast editerad 2016-02-08