Begreppsinformation
Föredragen term
Atomkraftmikroskopi
Typ
-
Ämne
Överordnat begrepp
Hänvisningstermer
- Mikroskopi, atomkraft
Användningsanmärkning
- En typ av svepmikrosond där en sond systematiskt åker över ytan på ett preparat i ett rastermönster. Den verikala rörelsen registreras då en fjäder på sonden stiger och faller med toppar och gropar på ytan. Dessa utslag ger upphov till en topografisk bild av preparatet.
Termer på andra språk
-
engelska
-
Atomic Force Microscopies
-
Atomic Force Microscopy
-
Force Microscopies
-
Force Microscopies, Scanning
-
Force Microscopy
-
Force Microscopy, Scanning
-
Microscopies, Atomic Force
-
Microscopies, Force
-
Microscopies, Scanning Force
-
Microscopy, Force
-
Microscopy, Scanning Force
-
Scanning Force Microscopies
-
Scanning Force Microscopy
-
finska
URI
http://www.yso.fi/onto/mesh/D018625
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}