Hoppa till innehållet

Sök i vokabulär

Innehållets språk

Begreppsinformation

Föredragen term

Atomkraftmikroskopi  

Typ

  • Ämne

Överordnat begrepp

Hänvisningstermer

  • Mikroskopi, atomkraft

Användningsanmärkning

  • En typ av svepmikrosond där en sond systematiskt åker över ytan på ett preparat i ett rastermönster. Den verikala rörelsen registreras då en fjäder på sonden stiger och faller med toppar och gropar på ytan. Dessa utslag ger upphov till en topografisk bild av preparatet.

Termer på andra språk

  • engelska

  • Atomic Force Microscopies
  • Atomic Force Microscopy
  • Force Microscopies
  • Force Microscopies, Scanning
  • Force Microscopy
  • Force Microscopy, Scanning
  • Microscopies, Atomic Force
  • Microscopies, Force
  • Microscopies, Scanning Force
  • Microscopy, Force
  • Microscopy, Scanning Force
  • Scanning Force Microscopies
  • Scanning Force Microscopy
  • finska

URI

http://www.yso.fi/onto/mesh/D018625

Ladda ned detta begrepp:

RDF/XML TURTLE JSON-LD Skapad 1994-04-16, senast editerad 2004-07-07