Begreppsinformation
Föredragen term
Svepsondmikroskopi
Typ
-
Ämne
Överordnat begrepp
Underordnade begrepp
Användningsanmärkning
- En form av svepmikroskopi där en spetsig sond placeras mycket nära objektets yta och känner av någon viss ytegenskap, t ex yttopografi (metoden är då atomkraftmikroskopi), eller ledningsförmåga (sveptunnelmikroskopi).
Termer på andra språk
-
engelska
-
Scanning Probe Microscopy
-
finska
URI
http://www.yso.fi/onto/mesh/D020527
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}